LJD-C型全自動介電常數(shù)測定儀使用方法詳解

一、自動介電常數(shù)測試方法與步驟(需選配自動測試軟件模塊)：

1.自動介電常數(shù)測試時，基本步驟同手動一樣，只是主機支持通過數(shù)據(jù)模塊記錄S916測試夾具的數(shù)據(jù)，并自動計算出介電常數(shù)。

2.使用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換連接線,連接S916數(shù)據(jù)傳輸接口和介電常數(shù)測試主機背板上的四芯插座.（見下圖）

3.按主機鍵盤區(qū)“2”按鍵1次，出現(xiàn)下圖界面.

4.當S916測試夾具夾緊待測材料，調(diào)節(jié)主機的主調(diào)電容使主機諧振，此時第二次按主機鍵盤區(qū)“2”按鍵。此時主機將保留最終的D2數(shù)據(jù)，并顯示下圖界面

5.拿出被測材料，再次調(diào)節(jié)S916測試夾具的上下極片，直到主機再次諧振，最后再一次按下主機鍵盤區(qū)“2”按鍵，主機保存D4數(shù)據(jù)，并計算出介電常數(shù)的數(shù)值。顯示下圖界面，此時主機已經(jīng)把計算出的介電常數(shù)e顯示在顯示屏上。

6.按主機鍵盤區(qū)“Q”按鍵退出測試，結(jié)束測試。

二、LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀介質(zhì)損耗測試方法與步驟：

1.主機C₀值的計算方式:

a）選一個適當?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端；

b）將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右，令這個電容是C₄，

c）按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時Q的讀數(shù)為Q₄(注：若頻率搜索未能找到高Q值諧振點，可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達到Q值最大值的諧振點；

d）將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值，然后拿出材料，調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值，調(diào)節(jié)主調(diào)電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C₃，Q值讀數(shù)為Q₃。(注：C₃數(shù)值肯定比C₄要小)LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀

機構(gòu)電容的有效電容為：C_z= C₄－C₃

2.分布電容為機構(gòu)電容C_Z和電感分布電容C_L（參考電感的技術(shù)說明）的和

介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為

3.把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

4.在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

5.被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。

6.調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D₂，改變主機上的主調(diào)電容容量，使主機處于諧振點（Q值最大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容，當Q為最大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩(wěn)定），然后按一次 主機上的小數(shù)點（tgδ）鍵(請用絕緣材料來按，不要用手來按），在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C₀= x x x(C₀=C_z+C_L電感分布電容)需要手動輸入，記住厚度D₂的值，此時顯示數(shù)值為C₂和Q₂。

7.取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變?。?，再改變主機上的主調(diào)電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值最大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容，當Q為最大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩(wěn)定））上。

注意：多次測試同一個材料時，要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。

8.第二次按下 主機上的小數(shù)點（tgδ）鍵，顯示屏上原C₂和Q₂顯示變化為C₁和Q₁，同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測試。

9.出錯提示，當出現(xiàn)tn =  NO 顯示時，說明測試時出現(xiàn)了差錯，發(fā)生了Q₁ ≤ Q₂和C₁ ≤ C₂的錯誤情況。